| 成果基本信息 | ||||||
| 关键词: | 双F-P干涉仪,比值条纹计数,位移传感器解调 | |||||
| 成果类别: | 应用技术 | 技术成熟度: | 初期阶段 | |||
| 体现形式(基础理论类): | 其他 | 体现形式(应用技术类): | 新技术 | |||
| 成果登记号: | 资源采集日期: | |||||
| 研究情况 | |||||
| 单位名称: | 武汉理工大学 | 技术水平: | 未评价 | ||
| 评价证书号: | 评价单位: | ||||
| 评价日期: | 评价证书号: | ||||
| 转化情况 | |||||
| 转让范围: | 合作开发 | 推广形式: | 合作开发 | ||
| 已转让企业数(个): | |||||
| 联系方式 | |||||
| 联系人(平台): | 孵化基地 | 联系人(平台)电话: | 0771-3394012 | ||
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| 成果简介 | |||||
本发明提供了一种基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及位移传感器解调系统,将两路干涉光强信号直接相除,所得比值滤去直流项后随F-P腔的腔长变化过程中产生正负脉冲,通过脉冲的正负判断F-P腔长增大或减小,光程差改变一个波长时,计数器计数2次。对应的位移传感器解调系统包括激光器、光纤隔离器、第一光纤耦合器、第二光纤耦合器、第三光纤耦合器、传感单元、光电探测器、前置放大单元、DSP信号处理模块与外设显示单元。本发明具有以下有益效果:省去传感器类型标定、运算和判向过程,降低解调算法复杂度;比值条纹计数法的理论精度是一般条纹计数法的2倍;先天抗干扰,通过DSP信号处理模块实现测量仪器小型 |