| 成果基本信息 | ||||||
| 关键词: | 高速缓存多位硬错误检测 | |||||
| 成果类别: | 应用技术 | 技术成熟度: | 初期阶段 | |||
| 体现形式(基础理论类): | 其他 | 体现形式(应用技术类): | 新技术 | |||
| 成果登记号: | 资源采集日期: | |||||
| 研究情况 | |||||
| 单位名称: | 武汉理工大学 | 技术水平: | 未评价 | ||
| 评价证书号: | 评价单位: | ||||
| 评价日期: | 评价证书号: | ||||
| 转化情况 | |||||
| 转让范围: | 合作开发 | 推广形式: | 合作开发 | ||
| 已转让企业数(个): | |||||
| 联系方式 | |||||
| 联系人(平台): | 孵化基地 | 联系人(平台)电话: | 0771-3394012 | ||
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| 成果简介 | |||||
本发明涉及一种近阈值电压下高速缓存多位硬错误的检测及容错装置与方法,检测及容错装置包括Cache数据存储器、Cache标记存储器、BIST电路、ECC存储器、纠错编码器、纠错解码器、错误映射存储器、压缩映射存储器、空子块探测器、子块压缩器和子块解压器,依据所选用的Cache管理策略,使用单错校正双错检测(SECDED)的ECC纠错码和空子块数据压缩方法对Cache数据存储器中出现的多位硬错误进行检测与容错。本发明实现的微处理器,在微处理器中能够检测高速缓存存储器中由于工艺参数波动等原因导致的多位硬错误并进行容错,可以提高微处理器在使用近阈值电压技术的低功耗环境下的可靠性 |