本发明公开了一种基于平面复眼和同轴结构光的三维测量系统及使用方法，用于测量被测物体，其装置包括投影仪、半透半反镜和平面复眼，所述投影仪中发出的结构光通过半透半反镜照射在被测物体上，经过被测物体反射后再次经过半透半反镜后成像在平面复眼中，所述平面复眼与计算机连通。本发明的优点在于：其利用半透半反镜建立了投影仪和平面复眼间的同轴关系，实现了全视场无阴影测量；利用平面复眼多通道间的约束关系，可实现对结构光图像的快速准确分析，并对低相位敏感区域进行校正。与传统方法相比，本发明具有全视场、无阴影、速度快、精度高等特点，在三维测量领域具有广阔的应用前景。

 本发明公开了一种基于平面复眼和同轴结构光的三维测量系统及使用方法，用于测量被测物体，其装置包括投影仪、半透半反镜和平面复眼，所述投影仪中发出的结构光通过半透半反镜照射在被测物体上，经过被测物体反射后再次经过半透半反镜后成像在平面复眼中，所述平面复眼与计算机连通。本发明的优点在于：其利用半透半反镜建立了投影仪和平面复眼间的同轴关系，实现了全视场无阴影测量；利用平面复眼多通道间的约束关系，可实现对结构光图像的快速准确分析，并对低相位敏感区域进行校正。与传统方法相比，本发明具有全视场、无阴影、速度快、精度高等特点，在三维测量领域具有广阔的应用前景。