成果基本信息 | ||||||
关键词: | ||||||
成果类别: | 应用技术 | 技术成熟度: | 初期阶段 | |||
体现形式(基础理论类): | 论文 | 体现形式(应用技术类): | 新技术 | |||
成果登记号: | 资源采集日期: |
研究情况 | |||||
单位名称: | 技术水平: | 未评价 | |||
评价证书号: | 评价单位: | ||||
评价日期: | 评价证书号: |
转化情况 | |||||
转让范围: | 产权转让 | 推广形式: | 产权转让 | ||
已转让企业数(个): |
联系方式 | |||||
联系人(平台): | 孵化基地 | 联系人(平台)电话: | 0771-3394012 | ||
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成果简介 | |||||
本发明提出一种基于寿命模型参数波动的精确评估IGBT可靠性的方法,该方法包括以下步骤:S1、根据IGBT的型号和使用环境,确定IGBT所在电路的电气参数;S2、确定IGBT的热应力:根据IGBT所在电路的电气参数,在仿真软件中搭建电路图,根据IGBT的Datasheet中的损耗参数和热模型,仿真得到IGBT的结温随时间变化的波形;S3、结合Bayerer模型参数和IGBT的结温,进行的IGBT寿命评估。本发明可有效评估IGBT的可靠性。 |