| 成果基本信息 | ||||||
| 关键词: | 石英晶格,杂质元素,偏聚分布 | |||||
| 成果类别: | 应用技术 | 技术成熟度: | 初期阶段 | |||
| 体现形式(基础理论类): | 其他 | 体现形式(应用技术类): | 新技术 | |||
| 成果登记号: | 资源采集日期: | |||||
| 研究情况 | |||||
| 单位名称: | 武汉理工大学 | 技术水平: | 未评价 | ||
| 评价证书号: | 评价单位: | ||||
| 评价日期: | 评价证书号: | ||||
| 转化情况 | |||||
| 转让范围: | 合作开发 | 推广形式: | 合作开发 | ||
| 已转让企业数(个): | |||||
| 联系方式 | |||||
| 联系人(平台): | 孵化基地 | 联系人(平台)电话: | 0771-3394012 | ||
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| 成果简介 | |||||
本发明涉及一种石英晶格杂质元素偏聚分布的分析方法,包括以下步骤:获取待分析石英的质量、体积以及初始杂质含量;使用不同浓度的剥蚀剂剥蚀石英表面,并获取每次剥蚀石英的质量以及每次剥蚀后石英中的杂质含量;根据上述参数,建立基于剥蚀后石英中杂质平均含量与对应部位距石英表面深度之间的数学模型;再通过多组剥蚀试验,根据数学模型计算出某杂质从表面到内部的杂质元素含量和深度。本发明提供的分析方法,能够得到杂质的富集区和亏损区,计算结果与实际情况偏差小,能够弥补现有EMPA等定量分析方法无法原位准确测量石英中杂质分布的技术缺陷 |