成果基本信息 | ||||||
关键词: | 图像;平板探测器;监控;校正方法;像素 | |||||
成果类别: | 技术成熟度: | |||||
体现形式(基础理论类): | 体现形式(应用技术类): | 无 | ||||
成果登记号: | 9612018Y1587 | 资源采集日期: | 2019-04-15 |
研究情况 | |||||
单位名称: | 西北工业大学 | 技术水平: | |||
评价证书号: | 评价单位: | ||||
评价日期: | 评价证书号: |
转化情况 | |||||
转让范围: | 推广形式: | 无 | |||
已转让企业数(个): | 0 |
联系方式 | |||||
联系人(平台): | 玉女士 | 联系人(平台)电话: | 0771-5885053 | ||
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成果简介 | |||||
本发明公开了一种平板探测器的监控与校正方法,在平板探测器射线接收窗一侧安装一金属条,获取暗场图像和坏像素模板图像,采集多幅空白照射图像,合成一幅后减去暗场图像,得到图像S′(x,y);照射被检测物体得到图像S0(x,y);进行暗场校正得到图像S1(x,y);进行平板探测器暗场图像波动监控的判定计算和校正计算,得到图像S2(x,y);得到图像S3(x,y)=ln[S′(x,y)/S2(x,y)];利用坏像素模板图像,对图像S3(x,y)进行坏像素校正。本发明提供的方法可以监控平板探测器全使用周期中的暗场图像波动并进行简便校正,无需生成增益校正图像,并去除了常规的增益校正步骤,可直接计算得到用于后续应用的数字图像。 |