成果基本信息 | ||||||
关键词: | ||||||
成果类别: | 应用技术 | 技术成熟度: | 初期阶段 | |||
体现形式(基础理论类): | 论文 | 体现形式(应用技术类): | 新技术 | |||
成果登记号: | 资源采集日期: |
研究情况 | |||||
单位名称: | 厦门大学2 | 技术水平: | 国际领先 | ||
评价证书号: | 评价单位: | ||||
评价日期: | 评价证书号: |
转化情况 | |||||
转让范围: | 产权转让 | 推广形式: | 产权转让 | ||
已转让企业数(个): |
联系方式 | |||||
联系人(平台): | 玉女士 | 联系人(平台)电话: | 0771-5885053 | ||
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成果简介 | |||||
ZL200910113087.2 一种用于陶瓷材料晶粒晶界性能测试电极及其测试方法,涉及一种测试电极。提供一种用于陶瓷材料的晶粒晶界性能测试电极及其测试方法。测试电极设有校准环、基电极和标向图,基电极设在校准环上,基电极由圆电极在水平、竖直及对角线3个方向引出细线组成,圆电极呈阵列排布;标向图设在基电极四周。制备富CuO的陶瓷材料粉体,干压成陶瓷圆片,保温,表面处理得晶界清晰的陶瓷表面,在表面制备电极;进行I-V特性的测量。无需通过繁琐的工艺制备单晶;便于测量、后期数据的比较分析和后期重复实验;无需使用昂贵的微细探针,且只要借助光学显微镜即可完成测量而无须借助AFM;细线间的距离可根据样品间距的大小来调节,便于各种配方的测量。 |